導(dǎo)航
信息摘要：
大塚電子（蘇州）有限公司
展位號：2B29
作為世界500強企業(yè)之一的大冢集團，其旗下日本大塚電子集團的子公司大塚電子（蘇州）有限公司以“多樣性”、“創(chuàng)新性”和“全球化”作為基本方針，并融合了自公司成立以來積累的核心技術(shù)，為用于光學(xué)特性測試的測量儀器、分析儀器提供從銷售到售后的全面服務(wù)支持，包括偏光片測試儀、位相差測試儀、液晶Cellgap測試儀、ColorFilter色度機、膜厚測試儀、透過率測試儀、反射率測試儀、納米粒度儀等，可以滿足納米技術(shù)、高分子化學(xué)、新材料、食品、半導(dǎo)體和醫(yī)藥等諸多領(lǐng)域從研發(fā)到質(zhì)量管理各方面的需求，擁有精度高、測試快、操作簡便、市場占有率高、客戶群體廣的特點及優(yōu)勢。
01、顯微分光膜厚儀 OPTM series
產(chǎn)品介紹：
非接觸、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內(nèi)
初學(xué)者也能輕松解析建模的初學(xué)者解析模式
高精度、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波段內(nèi)的絕對反射率，可分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n：折射率、k：消光系數(shù)）
單點對焦加量測在1秒內(nèi)完成
顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外 ~ 近紅外）
獨立測試頭對應(yīng)各種inline定制化需求
最小對應(yīng)spot約3μm
獨家專利可針對超薄膜解析nk
02、光波動場三次元顯微鏡 MINUK
產(chǎn)品介紹：
MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。
且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
通過一次拍照即可獲取深度方向的信息，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數(shù)值化實現(xiàn)可視化。
DIC EXPO
DIC EXPO國際(上海)顯示技術(shù)及應(yīng)用創(chuàng)新展,致力于向高附加值應(yīng)用行業(yè)展示薄膜與膠帶及涂布模切領(lǐng)域的創(chuàng)新解決方案,并促進了上下游企業(yè)高效鏈接,挖掘潛在商機,推動產(chǎn)業(yè)可持續(xù)發(fā)展。為薄膜與膠帶企業(yè)打造精準(zhǔn)高效的供需對接與技術(shù)交流平臺。本屆展會將于2025年8月7-9日在上海新國際博覽中心舉辦,同期舉辦IFTE國際(上海)薄膜與膠帶技術(shù)及應(yīng)用創(chuàng)新展。展會預(yù)計將吸引300余家參展商及品牌集中展示前沿技術(shù)產(chǎn)品及應(yīng)用解決方案,聚焦功能膜材、膠粘新材、模切涂布等領(lǐng)域。
展會位置如上歡迎蒞臨指導(dǎo)
